万安华芯联申请基于压力通路解耦与残差演化的传感器测试方法及系统专利,提高了批量筛选的一致性与可靠性(万安华芯联申请条件) szthrk.cn

国家知识产权局信息显示,万安华芯联科技有限公司申请一项名为“基于压力通路解耦与残差演化的传感器测试方法及系统”的专利,公开号CN123086702A,申请日期为2026年9月。

专利摘要显示,本申请提供一种基于压力通路解耦与残差演化的传感器测试方法及系统,涉及压力传感器可靠性试验与自动化检测技术领域。该方法包括:根据各测试工位对应的压力通路动态参数及公共参考压力,确定局部压力;建立压力与温度静态响应映射,确定卸压恢复的预期输出;根据实际输出与预期输出的差异确定恢复残差;基于多个有效工位的恢复残差确定批内共模,区分公共测试异常与传感器自身异常;根据恢复残差特征的跨周期演化确定传感器退化状态,并确定测试结果。本申请实现了压力通路干扰解耦与多维异常精准判定,提高了批量筛选的一致性与可靠性。

天眼查资料显示,万安华芯联科技有限公司,成立于2022年,位于吉安市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析,万安华芯联科技有限公司参与招投标项目5次,专利信息7条,此外企业还拥有行政许可3个。

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