高反光工件短波红外检测的核心难点是杂散光与镜面反射干扰，SWIR 红外环形光源与 SWIR 红外同轴光源依靠不同光路设计抑制反光，是半导体、3C 精密检测常用照明方案。虹烁科技 SWIR 红外视觉光源包含这两类标准化产品，波长定制范围：800‑1700nm，支持非标红外光源定制。
SWIR 红外环形光源采用环绕式漫射光路，LED 排布在镜头四周，光线以倾斜角度投向被测表面，从多个方向补光，降低表面阴影。漫射版本可以柔化光线，削弱镜面反光，突出表面纹理与凹凸特征，多用于 PCB 基板、塑胶元器件、短波红外隐形二维码读取。环形光源可调整发光角度、内径尺寸适配不同工作距离。
SWIR 红外同轴光源内置分光棱镜，光源发出的光线经分光片垂直入射被测平面，反射光线沿原光路返回相机。该光路可以规避斜向杂散光，成像背景干净，适合硅晶圆、光学玻璃、抛光金属表面细微划痕、麻点、对位标记检测。同轴光源对装配同轴度、分光片光学质量要求较高。
两种光源没有绝对优劣：环形光源适配凹凸结构、小件元器件；同轴光源更适合平整高反光平面。当标准内径、光路高度、防护等级不满足产线条件时，可以启动非标红外光源定制，在 800‑1700nm 区间选定目标波长，同步完成光学仿真验证。
